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BS EN 55016-2-1:2009+A2:2013 Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Methods of measurement of disturbances and immunity. Conducted disturbance measurements, 2013
- cispr16-2-1{ed2.0}b.pdf [Go to Page]
- English [Go to Page]
- CONTENTS
- FOREWORD
- 1 Scope
- 2 Normative references
- 3 Definitions
- 4 Types of disturbance to be measured [Go to Page]
- 4.1 General
- 4.2 Types of disturbance
- 4.3 Detector functions
- 5 Connection of measuring equipment [Go to Page]
- 5.1 General
- 5.2 Connection of ancillary equipment
- 5.3 Connections to RF reference ground
- 5.4 Connection between the EUT and the artificial mains network
- 6 General measurement requirements and conditions [Go to Page]
- 6.1 General
- 6.2 Disturbance not produced by the equipment under test
- 6.3 Measurement of continuous disturbance
- 6.4 Operating conditions of the EUT
- 6.5 Interpretation of measuring results
- 6.6 Measurement times and scan rates for continuous disturbance
- 7 Measurement of disturbances conducted along leads, 9 kHz to 30 MHz [Go to Page]
- 7.1 Introduction
- 7.2 Measuring equipment (receivers, etc.)
- 7.3 Ancillary measuring equipment
- 7.4 Equipment under test configuration
- 7.5 System test configuration for conducted emissions measurements
- 7.6 In situ measurements
- 8 Automated measurement of emissions [Go to Page]
- 8.1 Introduction: Precautions for automating measurements
- 8.2 Generic measurement procedure
- 8.3 Prescan measurements
- 8.4 Data reduction
- 8.5 Emission maximization and final measurement
- 8.6 Post processing and reporting
- Annex A (informative) Guidelines to connection of electrical equipment to the artificial mains network (see Clause 5)
- Annex B (informative) Use of spectrum analyzers and scanning receivers (see Clause 6)
- Annex C (informative) Decision tree for use of detectors for conducted measurements (see 7.2.2)
- Annex D (informative) Scan rates and measurement times for use with the average detector
- Annex E (informative) Guidelines for the improvement of the test setup with ANs
- Bibliography
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Example of a recommended test setup with PE chokes with three AMNs and a sheath current absorber on the RF cable
- Figure 2 – Measurement of a combination of a CW signal (“NB”) and an impulsive signal (“BB”) using multiple sweeps with maximum hold
- Figure 3 – Example of a timing analysis
- Figure 4 – A broadband spectrum measured with a stepped receiver
- Figure 5 – Intermittent narrowband disturbances measured using fast short repetitive sweeps with maximum hold function to obtain an overview of the emission spectrum
- Figure 6 – Test configuration: table-top equipment for conducted disturbance measurements on power mains
- Figure 7 – Arrangement of EUT and AMN at 40 cm distance with a) vertical RGP and b) horizontal RGP
- Figure 8 – Optional example test configuration for an EUT with only a power cord attached
- Figure 9 – Test configuration: floor-standing equipment (see 7.4.1 and 7.5.2.2)
- Figure 10 – Example Test configuration: floor-standing and table-top equipment (see 7.4.1 and 7.5.2.2)
- Figure 11 – Schematic of disturbance voltage measurement configuration (see also 7.5.2.2)
- Figure 12a – Schematic for measurement and power circuit
- Figure 12b – Equivalent voltage source and measurement circuit
- Figure 12 – Equivalent circuit for measurement of common mode disturbance voltage for class I (grounded) EUT
- Figure 13a – Schematic for power and measurement circuit
- Figure 13b – Equivalent RFI source and measurement circuit
- Figure 13 – Equivalent circuit for measurement of common mode disturbance voltage for class II (ungrounded) EUT
- Figure 14 – RC element for artificial hand
- Figure 15 – Portable electric drill with artificial hand
- Figure 16 – Portable electric saw with artificial hand
- Figure 17 – Measuring example for voltage probes
- Figure 18 – Measurement arrangement for two-terminal regulating controls
- Figure A.1
- Figure A.2
- Figure A.3
- Figure A.4
- Figure A.5
- Figure A.6
- Figure A.7
- Figure A.8 – AMN configurations
- Figure C.1 – Decision tree for optimizing speed of conducted disturbance measurements with peak, quasi-peak and average detectors
- Figure D.1 – Weighting function of a 10 ms pulse for peak (“PK”) and average detections with (“CISPR AV”) and without (“AV”) peak reading; meter time constant 160 ms
- Figure D.2 – Weighting functions of a 10 ms pulse for peak (“PK”) and average detections with (“CISPR AV”) and without (“AV”) peak reading; meter time constant 100 ms
- Figure D.3 – Example of weighting functions (of a 1 Hz pulse) for peak (“PK”) and average detections as a function of pulse width: meter time constant 160 ms
- Figure D.4 – Example of weighting functions (of a 1 Hz pulse) for peak (“PK”) and average detections as a function of pulse width: meter time constant 100 ms
- Figure E.1 – Parallel resonance of enclosure capacitance and ground strap inductance
- Figure E.2 – Connection of an AMN to RGP using a wide grounding sheet for low inductance grounding
- Figure E.3 – Impedance measured with the arrangement of Figure E.2 both with reference to the front panel ground and to the grounding sheet
- Figure E.4 – VDF in the configuration of Figure E.2 measured with reference to the front panel ground and to the grounding sheet. (The AMN used has a flat frequency response of the VDF, which may be different for other AMNs)
- Figure E.5 – Arrangement showing the measurement grounding sheet (shown with dotted lines) when measuring the impedance with reference to RGP. The impedance measurement cable ground is connected to the measurement grounding sheet, whereas the inner conductor is connected to the EUT port pin.
- Figure E.6 – Impedance measured with the arrangement of Figure E.5 with reference to the RGP.
- Figure E.7 – VDF measured with parallel resonances in the AMN grounding
- Figure E.8 – Attenuation of a sheath current absorber measured in a 150-Ω test arrangement
- Figure E.9 – Arrangement for the measurement of attenuation due to PE chokes and sheath current absorbers
- Tables [Go to Page]
- Table 1 – Minimum scan times for the three CISPR bands with peak and quasi-peak detectors
- Table A.1
- Table A.2
- Table D.1 – Pulse suppression factors and scan rates for a 100 Hz video bandwidth
- Table D.2 – Meter time constants and the corresponding video bandwidths and maximum scan rates
-
- Français [Go to Page]
- SOMMAIRE
- AVANT-PROPOS
- 1 Domaine d'application
- 2 Références normatives
- 3 Définitions
- 4 Types de perturbations à mesurer [Go to Page]
- 4.1 Généralités
- 4.2 Types de perturbations
- 4.3 Fonctions de détection
- 5 Connexion du matériel de mesure [Go to Page]
- 5.1 Généralités
- 5.2 Connexion de l’équipement d’appoint
- 5.3 Connexions à la masse de référence RF
- 5.4 Connexion entre le matériel en essai et le réseau fictif d'alimentation (AMN)
- 6 Exigences et conditions générales de mesure [Go to Page]
- 6.1 Généralités
- 6.2 Perturbation non produite par le matériel à l'essai
- 6.3 Mesure d'une perturbation continue
- 6.4 Conditions de fonctionnement du matériel en essai
- 6.5 Interprétation des résultats de mesure
- 6.6 Temps de mesure et vitesses de balayage pour les perturbations continues
- 7 Mesure des perturbations conduites par les câbles, de 9 kHz à 30 MHz [Go to Page]
- 7.1 Introduction
- 7.2 Appareils de mesure (récepteurs, etc.)
- 7.3 Appareils de mesure auxiliaires
- 7.4 Configuration du matériel en essai
- 7.5 Configuration d'essai des systèmes pour les mesures d'émissions conduites
- 7.6 Mesure in situ
- 8 Mesure automatisée des émissions [Go to Page]
- 8.1 Introduction: Précautions pour les mesures automatisées
- 8.2 Procédure générale de mesure
- 8.3 Mesures par pré-balayage
- 8.4 Réduction des données
- 8.5 Maximisation des émissions et mesures finales
- 8.6 Post-traitement et rapport
- Annexe A (informative) Guide pour la connexion d'un matériel électrique au réseau fictif (voir Article 5)
- Annexe B (informative) Utilisation des analyseurs de spectre et des récepteurs à balayage (voir Article 6)
- Annexe C (informative) Arbre de décision pour l’utilisation des détecteurs pour les mesures en conduction (voir 7.2.2)
- Annexe D (informative) Durées de mesure et vitesses de balayage utilisables avec un détecteur de valeur moyenne
- Annexe E (informative) Lignes directrices pour l’amélioration de la configuration d’essai avec ANs
- Bibliographie
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Exemple d'un montage d'essai recommandé avec bobines PE, trois réseaux fictifs d'alimentation et un absorbeur de courant de gaine sur le câble RF
- Figure 2 – Mesure d'une combinaison d'un signal à onde entretenue (”Bande étroite”) et d'un signal en impulsion (”Large bande”) en utilisant des balayages multiples avec maintien du maximum
- Figure 3 – Exemple d'analyse temporelle
- Figure 4 – Spectre large bande mesuré avec un récepteur à accord par palier
- Figure 5 – Perturbations intermittentes à bande étroite mesurées en utilisant des balayages courts, rapides et répétitifs avec la fonction «maintien du maximum» pour obtenir une vue d'ensemble du spectre d'émission
- Figure 6 – Exemple de configuration d'essai: matériels de table pour mesures des perturbations conduites sur les conducteurs d’alimentation
- Figure 7 – Montage de matériel en essai et de AMN à 40 cm avec a) RGP vertical et b) RGP horizontal
- Figure 8 – Exemple de configuration d’essai facultative pour un matériel en essai avec seulement un câble d’alimentation fixé
- Figure 9 – Exemple de configuration d'essai: matériels posés sur le sol (voir 7.4.1 et 7.5.2.2)
- Figure 10 – Exemple de configuration d'essai: matériels posés sur le sol et sur une table (voir 7.4.1 et 7.5.2.2)
- Figure 11 – Schéma de la configuration de mesure de la tension perturbatrice (voir aussi 7.5.2.2)
- Figure 12a – Schéma du circuit de mesure et d'alimentation
- Figure 12b – Circuit équivalent de source de tension et de mesure
- Figure 12 – Circuit équivalent de mesure de la tension perturbatrice en mode commun pour les matériels en essai de classe I (mis à la terre)
- Figure 13a – Schéma du circuit d'alimentation et de mesure
- Figure 13b – Circuit équivalent de source de perturbations radioélectriques et de mesure
- Figure 13 – Circuit équivalent de mesure de la tension perturbatrice en mode commun pour les matériels en essai de classe II (non mis à la masse)
- Figure 14 – Elément RC pour main artificielle
- Figure 15 – Perceuse électrique portative avec main artificielle
- Figure 16 – Scie électrique portative avec main artificielle
- Figure 17 – Exemple de mesure pour les sondes de tension
- Figure 18 – Disposition de mesure pour un dispositif de régulation à deux bornes
- Figure A.1
- Figure A.2
- Figure A.3
- Figure A.4
- Figure A.5
- Figure A.6
- Figure A.7
- Figure A.8 – Configurations du réseau fictif
- Figure C.1 – Arbre de décision pour l’optimisation de la durée des mesures des perturbations conduites avec les détecteurs de crête, de quasi-crête et de valeur moyenne
- Figure D.1 – Fonction de pondération d’une impulsion de 10 ms pour des détections de valeurs crêtes (PK) et moyennes avec (CISPR AV) ou sans (AV) lecteur crête; avec un contrôleur de période de 160 ms
- Figure D.2 – Fonctions de pondération d’une impulsion de 10 ms pour des détections de valeurs crêtes (PK) et moyennes avec (CISPR AV) ou sans (AV) lecteur crête; avec un contrôleur de période de 100 ms
- Figure D.3 – Exemple de fonctions de pondération (d’une impulsion de 1 Hz) pour des détections de valeurs crêtes («PK») et moyennes équivalentes à une fonction de largeur d’impulsion, avec un contrôleur de période de 160 ms
- Figure D.4 – Exemple de fonctions de pondération (d’une impulsion d’1 Hz) pour des détections de valeurs crêtes («PK») et moyennes équivalentes à une fonction de largeur d’impulsion, avec un contrôleur de période de 100 ms
- Figure E.1 – Résonance parallèle de la capacité de l'enveloppe et de l'inductance de connexion de masse
- Figure E.2 – Connexion d'un AMN au plan de masse de référence au moyen d'une tôle large, pour réaliser une mise à la masse à faible inductance
- Figure E.3 – Impédance mesurée avec la disposition de la Figure E.2, en référence à la fois à la masse de face avant et à la tôle de mise à la masse
- Figure E.4 – Facteur VDF dans la configuration de la Figure E.2, mesuré en référence à la masse de face avant et à la tôle de mise à la masse. (L'AMN utilisé a une réponse plate en fréquence du facteur VDF, qui peut être différente pour d'autres AMN)
- Figure E.5 – Disposition montrant la tôle de masse de mesure (représentée en pointillés) de l'impédance en référence au plan de masse de référence. La masse du câble de mesure de l'impédance est connectée à la tôle de masse de mesure, tandis que le conducteur interne est connecté à la broche d'accès du matériel en essai.
- Figure E.6 – Impédance mesurée avec la disposition de la Figure E.5, en référence au plan de masse de référence.
- Figure E.7 – Facteur VDF mesuré avec des résonances parallèles dans la liaison de masse de l'AMN
- Figure E.8 – Atténuation d’un absorbeur de courant de gaine mesuré dans un dispositif d’essai de 150 Ω
- Figure E.9 – Disposition de mesure de l'atténuation due aux bobines PE et aux absorbeurs de courant de gaine
- Tableaux [Go to Page]
- Tableau 1 – Durées de balayage minimales pour les trois bandes CISPR avec détecteur de crête et détecteur de quasi-crête
- Tableau A.1
- Tableau A.2
- Tableau D.1 – Facteurs de suppression d’impulsion et vitesses de balayage pour une largeur de bande vidéo de 100 Hz
- Tableau D.2 – Contrôleur de période et largeurs de bandes vidéo correspondantes et vitesses de balayages maximales correspondantes [Go to Page]