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BS EN 62506:2013 Methods for product accelerated testing, 2013
- 30286175-VOR.pdf [Go to Page]
- English [Go to Page]
- CONTENTS
- FOREWORD
- INTRODUCTION
- 1 Scope
- 2 Normative references
- 3 Terms, definitions, symbols and abbreviations [Go to Page]
- 3.1 Terms and definitions
- 3.2 Symbols and abbreviated terms
- 4 General description of the accelerated test methods [Go to Page]
- 4.1 Cumulative damage model
- 4.2 Classification, methods and types of test acceleration [Go to Page]
- 4.2.1 General
- 4.2.2 Type A: qualitative accelerated tests
- 4.2.3 Type B: quantitative accelerated tests
- 4.2.4 Type C: quantitative time and event compressed tests
- 5 Accelerated test models [Go to Page]
- 5.1 Type A, qualitative accelerated tests [Go to Page]
- 5.1.1 Highly accelerated limit tests (HALT)
- 5.1.2 Highly accelerated stress test (HAST)
- 5.1.3 Highly accelerated stress screening/audit (HASS/HASA)
- 5.1.4 Engineering aspects of HALT and HASS
- 5.2 Type B and C – Quantitative accelerated test methods [Go to Page]
- 5.2.1 Purpose of quantitative accelerated testing
- 5.2.2 Physical basis for the quantitative accelerated Type B test methods
- 5.2.3 Type C tests, time (C1) and event (C2) compression
- 5.3 Failure mechanisms and test design
- 5.4 Determination of stress levels, profiles and combinations in use and test – stress modelling [Go to Page]
- 5.4.1 General
- 5.4.2 Step-by-step procedure
- 5.5 Multiple stress acceleration methodology – Type B tests
- 5.6 Single and multiple stress acceleration for Type B tests [Go to Page]
- 5.6.1 Single stress acceleration methodology
- 5.6.2 Stress models with stress varying as a function of time – Type B tests
- 5.6.3 Stress models that depend on repetition of stress applications – Fatigue models
- 5.6.4 Other acceleration models – Time and event compression
- 5.7 Acceleration of quantitative reliability tests [Go to Page]
- 5.7.1 Reliability requirements, goals, and use profile
- 5.7.2 Reliability demonstration or life tests
- 5.7.3 Testing of components for a reliability measure
- 5.7.4 Reliability measures for components and systems/items
- 5.8 Accelerated reliability compliance or evaluation tests
- 5.9 Accelerated reliability growth testing
- 5.10 Guidelines for accelerated testing [Go to Page]
- 5.10.1 Accelerated testing for multiple stresses and the known use profile
- 5.10.2 Level of accelerated stresses
- 5.10.3 Accelerated reliability and verification tests
- 6 Accelerated testing strategy in product development [Go to Page]
- 6.1 Accelerated testing sampling plan
- 6.2 General discussion about test stresses and durations
- 6.3 Testing components for multiple stresses
- 6.4 Accelerated testing of assemblies
- 6.5 Accelerated testing of systems
- 6.6 Analysis of test results
- 7 Limitations of accelerated testing methodology
- Annex A (informative) Highly accelerated limit test (HALT)
- Annex B (informative) Accelerated reliability compliance and growth test design
- Annex C (informative) Comparison between HALT and conventional accelerated testing
- Annex D (informative) Estimating the activation energy, Ea
- Annex E (informative) Calibrated accelerated life testing (CALT)
- Annex F (informative) Example on how to estimate empirical factors
- Annex G (informative) Determination of acceleration factors by testing to failure
- Bibliography
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Probability density functions (PDF) for cumulative damage, degradation, and test types
- Figure 2 – Relationship of PDFs of the product strength vs. load in use
- Figure 3 – How uncertainty of load and strength affects the test policy
- Figure 4 – PDFs of operating and destruct limits as a function of applied stress
- Figure 5 – Line plot for Arrhenius reaction model
- Figure 6 – Plot for determination of the activation energy
- Figure 7 – Multiplier of the test stress duration for demonstration ofrequired reliability for compliance or reliability growth testing
- Figure 8 – Multiplier of the duration of the load application for the desired reliability
- Figure B.1 – Reliability as a function of multiplier kand for combinations of parameters a and b
- Figure B.2 – Determination of the multiplier k
- Figure B.3 – Determination of the growth rate
- Figure D.1 – Plotting failures to estimate the activation energy Ea
- Figure F.1 – Weibull graphical data analysis
- Figure F.2 – Scale parameter as a function of the temperature range
- Figure F.3 – Probability of failure as a function of number of cycles ΔT = 50 °C
- Figure G.1 – Weibull plot of the three data sets
- Figure G.2 – Scale parameters’ values fitted with a power line
- Tables [Go to Page]
- Table 1 – Test types mapped to the product development cycle
- Table A.1 – Summary of HALT test results for a DC/DC converter
- Table A.2 – Summary of HALT results from a medical system
- Table A.3 – Summary of HALT results for a Hi-Fi equipment
- Table B.1 – Environmental stress conditions of anautomotive electronic device
- Table B.2 – Product use parameters
- Table B.3 – Assumed product use profile
- Table B.4 – Worksheet for determination of use times to failures
- Table B.5 – Data for reliability growth plotting
- Table C.1 – Comparison between HALT and conventional accelerated testing
- Table F.1 - Probability of failure of test samples A and B
- Table F.2 – Data transformation for Weibull plotting
- Table G.1 – Voltage test failure data for Weibull distribution
- Français [Go to Page]
- SOMMAIRE
- AVANT-PROPOS
- INTRODUCTION
- 1 Domaine d'application
- 2 Références normatives
- 3 Termes, définitions, symboles et abréviations [Go to Page]
- 3.1 Termes et définitions
- 3.2 Symboles et abréviations
- 4 Description générale des méthodes d'essai accéléré [Go to Page]
- 4.1 Modèle de cumul des dommages
- 4.2 Classification, méthodes et types d'accélération d'essai [Go to Page]
- 4.2.1 Généralités
- 4.2.2 Type A, essais accélérés qualitatifs
- 4.2.3 Type B: essais accélérés quantitatifs
- 4.2.4 Type C: essais quantitatifs de compression temporelle et d'événements
- 5 Modèles d'essais accélérés [Go to Page]
- 5.1 Type A: essais accélérés qualitatifs [Go to Page]
- 5.1.1 Essais aux limites hautement accélérés (HALT)
- 5.1.2 Essais sous contrainte hautement accélérés (HAST)
- 5.1.3 Déverminage/audit sous contrainte hautement accéléré (HASS/HASA)
- 5.1.4 Aspects techniques de HALT et de HASS
- 5.2 Types B et C – Méthodes d'essais accélérés quantitatifs [Go to Page]
- 5.2.1 Objectif des essais accélérés quantitatifs
- 5.2.2 Fondement physique des méthodes d'essais accélérés quantitatifs de Type B
- 5.2.3 Essais de Type C, compression temporelle (C1) et des événements (C2)
- 5.3 Mécanismes de défaillance et conception des essais
- 5.4 Détermination des niveaux de contrainte, profils et combinaisons en utilisation et en essai – Modélisation des contraintes [Go to Page]
- 5.4.1 Généralités
- 5.4.2 Méthode pas-à-pas
- 5.5 Méthode d'accélération de contraintes multiples – Essais de Type B
- 5.6 Accélération de contraintes uniques et multiples pour des essais de Type B [Go to Page]
- 5.6.1 Méthode d'accélération de contraintes uniques
- 5.6.2 Modèles de contraintes variables en fonction du temps – Essais de Type B
- 5.6.3 Modèles de contraintes dépendant de la répétition des applications de contraintes – Modèles de fatigue
- 5.6.4 Autres modèles d'accélération – Compression temporelle et compression d'événements
- 5.7 Accélération d'essais de fiabilité quantitatifs [Go to Page]
- 5.7.1 Exigences, objectifs et profils d'utilisation de la fiabilité
- 5.7.2 Démonstration de fiabilité ou essais de durée de vie
- 5.7.3 Essais de composants pour une mesure de la fiabilité
- 5.7.4 Mesures de fiabilité pour des composants et des systèmes/entités
- 5.8 Essais accélérés de conformité ou d'évaluation de la fiabilité
- 5.9 Essais accélérés de croissance de fiabilité
- 5.10 Principes directeurs des essais accélérés [Go to Page]
- 5.10.1 Essais accélérés pour des contraintes multiples et le profil d'utilisation connu
- 5.10.2 Niveau de contraintes accélérées
- 5.10.3 Essais accélérés de fiabilité et de vérification
- 6 Stratégie d'essais accélérés pour le développement du produit [Go to Page]
- 6.1 Plan d'échantillonnage d'essais accélérés
- 6.2 Discussion générale concernant les contraintes et durées d'essai
- 6.3 Essais de composants soumis à des contraintes multiples
- 6.4 Essais accélérés d'ensembles
- 6.5 Essais accélérés de systèmes
- 6.6 Analyses des résultats d'essais
- 7 Limites des méthodes d'essais accélérés
- Annexe A (informative) Essai aux limites hautement accéléré (HALT)
- Annexe B (informative) Conception d'un essai accéléré de conformitéet de croissance de la fiabilité
- Annexe C (informative) Comparaison entre essais HALT et essais accélérés classiques
- Annexe D (informative) Estimation de l'énergie d'activation, Ea
- Annexe E (informative) Essai de durée de vie accéléré étalonné (CALT)
- Annexe F (informative) Exemple de méthode d'estimation des facteurs empiriques
- Annexe G (informative) Détermination des facteurs d'accélération par des essais de défaillance
- Bibliographie
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Fonctions de densité de probabilité (PDF – probability density function) pour dommages cumulés, dégradation et types d'essais
- Figure 2 – Relations de PDF de la robustesse du produit en fonctionde la charge en cours d'utilisation
- Figure 3 – Manière dont l'incertitude de la charge et de la robustesse affectela politique d'essai
- Figure 4 – PDF des limites de fonctionnement et de destructionen fonction de la contrainte appliquée
- Figure 5 – Tracé du modèle de réaction d'Arrhenius
- Figure 6 – Tracé de détermination de l'énergie d'activation
- Figure 7 – Multiplicateur de la durée de contrainte d'essai pour les essais exigés de démonstration de fiabilité (de conformité) ou de croissance de la fiabilité
- Figure 8 – Multiplicateur de durée d'application de la charge pour la fiabilité requise
- Figure B.1 – Fiabilité en fonction du multiplicateur k etpour des combinaisons de paramètres a et b
- Figure B.2 – Détermination du multiplicateur k
- Figure B.3 – Détermination du taux de croissance
- Figure D.1 – Tracé des défaillances pour estimation de l'énergie d'activation Ea
- Figure F.1 – Analyse des données selon la méthode graphique de Weibull
- Figure F.2 – Paramètre d’échelle en fonction de la plage de températures
- Figure F.3 – Probabilité de défaillance en fonction du nombre de cycles ∆T = 50 °C
- Figure G.1 – Tracé de Weibull des trois jeux de données
- Figure G.2 – Valeurs des paramètres d'échelle sur une ligne de puissance
- Tableaux [Go to Page]
- Tableau 1 – Mise en correspondance des types d’essais avec le cycle de développement du produit
- Tableau A.1 – Résumé des résultats d'essai HALT pourun convertisseur continu-continu
- Tableau A.2 – Résumé des résultats d'essai HALT pour un matériel médical
- Tableau A.3 – Résumé des résultats d'essai HALT pour une chaîne stéréophonique
- Tableau B.1 – Conditions de contraintes environnementalesd'un dispositif électronique de l'industrie automobile
- Tableau B.2 – Paramètres d'utilisation du produit
- Tableau B.3 – Hypothèse de profil d'utilisation du produit
- Tableau B.4 – Feuille de calcul pour la détermination des duréesde fonctionnement avant défaillance
- Tableau B.5 – Données pour le tracé des données de croissance de la fiabilité
- Tableau C.1 – Comparaison entre essais HALT et essais accélérés classiques
- Tableau F.1 – Probabilité de défaillance des échantillons d’essai A et B
- Tableau F.2 – Conversion des données pour le tracé de Weibull
- Tableau G.1 – Données de défaillance d'essai en tensionpour une loi de distribution de Weibull [Go to Page]
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